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廣電計量半導體材料微結構分析與評價CNAS認可提供半導體材料微結構分析與評價服務,提供半導體材料元素成分分析,結構分析,微觀形貌分析測試服務，CNAS資質認可,幫助客戶全面了解半導體材料理化特性。
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電子元器件失效分析經常用到的檢查分析方法簡單可以歸類為無損分析、有損分析。有損分析就是對器件進行各種微觀解剖分析，其首要要求就是在避免人為損傷的前提下，展現(xiàn)內部缺陷形貌。
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廣電計量表面絕緣電阻（SIR）測試全國6大專項實驗室可以評估金屬導體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學物品在PCB板面上是否殘留任何會影響電子零件電氣特性的物質，通過...
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雙束掃描電子顯微鏡（DB-FIB）是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺顯微鏡上，再加裝氣體注入系統(tǒng)（GIS）和納米機械手等配件，從而實現(xiàn)刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計量雙束掃描電子顯...
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廣電計量軌道交通電子元器件失效分析可加急檢測是指借助各種測試分析技術和方法確認電子元器件的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式和失效機理，確認失效根因，提出設計和工藝改進建議，防止失效的重復出現(xiàn)，提高元器件可靠性...
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為全面分析和評價動車組板卡的可靠性,廣電計量板卡壽命評估與可靠性提升第三方檢測機構通過板卡的X-ray檢測、電性能測試及壽命特征分析、壽命及加速壽命試驗、失效分析等方法對板卡的輸出性能衰減可靠性進行預...
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近年來，我國交通運輸事業(yè)得到了飛速的發(fā)展，但隨著車輛運行速度的提高，運行環(huán)境差異的增大，由此帶來的動車車輛疲勞損傷的問題日益嚴重。另外，目前我國的動車車輛的檢修實行定期檢修機制。廣電計量動車壽命評估與...
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廣電計量光、電、熱、機械全參數(shù)測試可加急檢測服務可與企業(yè)合作，深入產品研發(fā)階段，有效為產品研發(fā)和定型提供測試保障。
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液態(tài)冷熱沖擊試驗主要用于兩個裝置內部的液體冷熱交替循環(huán)試驗。冷熱沖擊試驗是評價散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強化試驗，為冷卻器的設計提供試驗數(shù)據(jù)，也是驗證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性，對保證換...
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